Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials
Produktinformationen "Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials"
Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials
| Autor: | Dong, Xingchen |
|---|---|
| ISBN: | 9783844085174 |
| Verlag: | Shaker |
| Auflage: | 1 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 173 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Erscheinungsdatum: | 28.03.2022 |
| Verlag: | Shaker |
| Schlagworte: | Chemie Elektrotechnik, Elektronik Ingenieurwissenschaften hyperspectral imaging layer thickness microscopy multivariate analysis two-dimensional materials |