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Zu "In-Situ Microscopy" wurden 2 Produkte gefunden
Filter
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Verlag
Springer International Publishing (2)
Verlag
Springer International Publishing (2)
Produktart
Gebunden (1)
Kartoniert / Broschiert (1)
Autor
Gott, James A. (2)
Schlagworte
Atomic Resolution Microscopy (2)
Defects (2)
Electron Microscopy (2)
Heterostructures (2)
III-V (2)
In-Situ Microscopy (2)
Nanowires (2)
Scanning Transmission Electron Microscope (2)
Semiconductors (2)
Transmission Electron Microscope (2)
Erscheinungsdatum
2022 (1)
2023 (1)
Sprache
Englisch (2)
Erscheinungsdatum
Name A-Z
Name Z-A
Preis aufsteigend
Preis absteigend
Beste Ergebnisse
Topseller
Defects in Self-Catalysed III-V Nanowires
ISBN: 9783030940645
171,19 €*
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Defects in Self-Catalysed III-V Nanowires
ISBN: 9783030940614
171,19 €*
In den Warenkorb
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