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Zu "SRUS" wurden 6 Produkte gefunden
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Verlag
Springer International Publishing (2)
Springer London (4)
Verlag
Springer International Publishing (2)
Springer London (4)
Produktart
Gebunden (3)
Kartoniert / Broschiert (3)
Autor
Fan, Jiyang Chu, Paul K. (2)
Muralikrishnan, Balasubramanian Raja, Jayaraman (2)
Seebauer, Edmund G. Kratzer, Meredith C. (2)
Schlagworte
3D (2)
algorithms (2)
Catalysis (2)
Defect (2)
Diffusion (2)
electronics (2)
Field Electron Emission (2)
Filtering (2)
Fitting (2)
Metrology (2)
Microelectronics (2)
Nanostructure (2)
Photoluminescence (2)
Quantum Size Effects (2)
Roundness (2)
Semiconductor (2)
Sensor (2)
Silicon Carbide (2)
SRUS (6)
Surface Texture (2)
thermodynamics (2)
transistor (2)
Uncertainty (2)
Erscheinungsdatum
2008 (1)
2010 (1)
2014 (1)
2016 (1)
Sprache
Englisch (6)
Erscheinungsdatum
Name A-Z
Name Z-A
Preis aufsteigend
Preis absteigend
Beste Ergebnisse
Topseller
Charged Semiconductor Defects
ISBN: 9781849968201
160,49 €*
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Charged Semiconductor Defects
ISBN: 9781848820586
160,49 €*
In den Warenkorb
Computational Surface and Roundness Metrology
ISBN: 9781849967730
160,49 €*
In den Warenkorb
Silicon Carbide Nanostructures
ISBN: 9783319087252
171,19 €*
In den Warenkorb
Silicon Carbide Nanostructures
ISBN: 9783319330945
171,19 €*
In den Warenkorb
Computational Surface and Roundness Metrology
ISBN: 9781848002968
160,49 €*
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