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Zu "Scanning-Electron Microscopy" wurde 1 Produkt gefunden
Filter
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Verlag
KIT Scientific Publishing (1)
Verlag
KIT Scientific Publishing (1)
Produktart
Kartoniert / Broschiert (1)
Autor
Sedlmayr, Andreas (1)
Schlagworte
mechanical Properties (1)
Nanotechnology (1)
Nanowires (1)
Scanning-Electron Microscopy (1)
Size-Effect (1)
Erscheinungsdatum
2012 (1)
Sprache
Englisch (1)
Erscheinungsdatum
Name A-Z
Name Z-A
Preis aufsteigend
Preis absteigend
Beste Ergebnisse
Topseller
Experimental Investigations of Deformation Pathways in Nanowires
ISBN: 9783866449053
44,00 €*
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